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芯片行業(yè)氣密檢測(cè)儀的應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間：2022-5-13 11:35:14 瀏覽次數(shù)：4317 作者：admin
從小小的手表到高科技實(shí)驗(yàn)室的精密儀器，都能找到芯片的身影。芯片作為一個(gè)產(chǎn)品的核心部件，肩負(fù)處理、分析各種信號(hào)數(shù)據(jù)的重任，是產(chǎn)品的大腦部門(mén)。如果芯片的本身性能或結(jié)構(gòu)稍有缺陷，則會(huì)對(duì)終的數(shù)據(jù)結(jié)果造成很大的影響，芯片的氣密性能是影響芯片使用壽命的關(guān)鍵指標(biāo)。芯片在使用過(guò)程中，會(huì)不斷的制造熱量，芯片散熱器的氣密性檢測(cè)夜尤為重要。
芯片氣密性及芯片散熱器的氣密性檢測(cè)及堵塞一般以壓縮空氣為介質(zhì)，采用差壓檢測(cè)的方式進(jìn)行。根據(jù)芯片的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，可以選用正壓檢測(cè)（工件內(nèi)充氣）或負(fù)壓檢測(cè)（防止密閉容器中，抽取流量氣體）方式檢測(cè)。差壓檢測(cè)的檢測(cè)原理類(lèi)似于天平，我們將芯片及治具所形成的一端叫做檢測(cè)端，類(lèi)似于天平的一端，另一端則為儀器內(nèi)部自帶的標(biāo)準(zhǔn)端（全密封）；對(duì)檢測(cè)的兩端同時(shí)充入同等壓力的氣體，當(dāng)檢測(cè)端存在泄漏，則天平的兩端則會(huì)存在壓力差；通過(guò)儀器讀取并計(jì)算（消除溫度、變形等外界影響）得出響應(yīng)的泄漏數(shù)值，從而進(jìn)行判定。
從上可知，對(duì)于芯片及散熱器的氣密檢測(cè)及堵塞測(cè)試儀可分為以下幾個(gè)步驟：
一、 根據(jù)要求選取合適的檢測(cè)壓力、判定限等參數(shù)；
二、 制作工裝夾具，其主要作用是在芯片檢測(cè)端形成密閉空間，方便抽氣或充氣；
三、 氣動(dòng)儀器“開(kāi)始”按鈕進(jìn)行檢測(cè)，儀器自行進(jìn)行判斷。在此過(guò)程中，儀器的檢測(cè)分為幾種情況。
1. 對(duì)于芯片中的微小泄漏，傳感器自行搜集泄漏數(shù)據(jù)，與設(shè)定的允漏值進(jìn)行判定；
2. 對(duì)于芯片的嚴(yán)重泄漏或者完全泄漏，芯片所在檢測(cè)端在充氣開(kāi)始時(shí)將會(huì)迅速與外界壓力達(dá)成一致，從而造成無(wú)壓力差情況，儀器根據(jù)自身程序設(shè)定將會(huì)對(duì)此情況做出判別，以免誤檢情況發(fā)生。
3. 對(duì)于芯片的堵塞測(cè)試，可與進(jìn)行氣密檢測(cè)的檢漏儀
沈陽(yáng)艾爾泰克擁有豐富氣密檢測(cè)的氣密檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，免費(fèi)提供技術(shù)解決方案，歡迎垂詢(xún)13998273083！
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